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SGS材料實驗室同軸探針法測試介電常數及損耗因數

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詳細信息SGS材料實驗室同軸探針法測試介電常數及損耗因數

同軸探針法
方法描述:將樣品等效為兩端口網絡,通過網絡分析儀測量該網絡的散射系數,測出介電常數。 測試設備:網絡分析儀/同軸探針 測試頻率:500M Hz~6.5G Hz
適用標準:1) SJ/T 10142
樣品要求:1) ≥長 10 mm,寬 10 mm,厚 0.5 mm 2) 表面平整 3) 非導電及磁性材料
簡介
介電常數 εr,又稱相對電容率,是介電材料的介電性質或極化性質的物理參數,等于被測材料 為介質與以真空為介質的電容之比。反映電介質材料在電場中儲存靜電能的能力。對于介電材料來 說,介電常數越小,絕緣性能越好。
損耗因數 D,又稱介質損耗,是指絕緣材料在電場作用下,由于介質電導和介質極化的滯后效 應,在其內部引起的能量損耗,也是介質損耗角正切值。反映電介質在電場作用下引起的能量損失, 損耗越小,介質越好。
聯系人:江經理
Tel:0755-2532 8700
Email:Jamie.Jiang@sgs.com 

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通標標準技術服務有限公司深圳分公司工業部材料實驗室

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