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型 號:53100A |
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價 格:面議 |
Microchip 53100A相位噪聲分析儀 概述 53100A相位噪聲分析儀可以測量高性能RF信號源的幅度、相位和頻率穩定性。測試頻率范圍為1MHz到200MHz。53100A可以告訴您關于您被測設備的任何穩定性特性,時間刻度范圍可以從飛秒到天。無論是單獨使用還是集成到自動化測試系統中,小巧的外形和業界領先的測量速度使得51300A可以適用于大多數應用。 繼承并擴展了3120A和51XXA系列儀器的優點,53100A可以以更低的成本來快速精確地測量SSB單邊帶相位噪聲和ADEV阿倫反差。得益于改進地設計和制造工藝進步,53100A在可靠性和性能上有了巨大地提升。 特點 信號輸入和參考輸入,頻率范圍1MHz到200MHz 沒有相位鎖定和不需要測量校準 單或雙參考振蕩器輸入允許互相關測量 TSC 51XXA命令和數據流仿真功能減少了重寫現有測試腳本的負擔 直觀的圖形界面使用戶能夠快速開始測量 測量 亞皮秒精度相位和頻率差的實時帶狀圖 絕對頻率計數精度每秒鐘13位以上,高17位 ADEV典型值<5E-14(1秒) 可以測量MDEV、HDEV、TDEV 相位噪聲和幅度噪聲偏移范圍為0.001Hz到1MHz,水平典型小于-175dBc/Hz(10MHz載波) 時間抖動、殘余FM調頻和SSB載波/噪聲比率 在Windows系統上使用高性能的基于電腦的DSP技術,所有這些測量都可以同時進行。您可以查看、保存、比較、打印和導出各種格式數據,包括TSC 51XXA兼容的。測量精度取決于用戶提供的外部參考源,參考源頻率為1MHz到200MHz,儀器本身不需要校準。 規格(25℃環境),除非備注其他溫度 性能 頻率范圍 | 1到200MHz | ADEV | <7E-14 (1秒) <5E-16(1000秒) |
相位噪聲規格 偏移頻率范圍:0.001Hz到1MHz 系統噪聲平面 偏移 | 5MHz載波 | 100MHz載波 | 1Hz | -135 | -120 | 10Hz | -145 | -130 | 100Hz | -155 | -145 | 1kHz | -165 | -160 | 10kHz | -170 | -170 | >100kHz | -170 | -170 | Spurious (5到100MHz) | -100 | -100 |
電氣特性 輸入信號電平:-5到+15dBm 輸入阻抗:50歐姆
欲了解更多信息請聯系: 北京創宇星通科技有限公司(Microchip授權代理) 地址:北京市海淀區學院南路68號吉安大廈A座502室 聯系人:李繼 手機:1 3 7 1 7 6 9 2 0 7 9 QQ:3 1 6 5 6 8 0 0 5 9
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